儀器名稱：場發射穿透式電子顯微鏡

廠牌：JEOL

型號：JEM-2100F

儀器性能：

1.具有掃描及穿透功能，可觀察材料微細組織，晶體結構及缺陷。

2.微區繞射分析(Nano Beam Diffraction)，鑑定結晶材料微結構。

3.高解析(HREM)，增強訊號並放大影像分析結晶材料微結構。

4.數位存取TEM/STEM影像。

5.化學元素成份定性及定量,分佈(Mapping)全能譜分析：B5~U92。

樣品限制：

使用者需詳細說明試片材料、製作方式與溶劑種類，為減少不必要的污染，本機台對於檢驗樣品的限制如下：

1.待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度。

2.會產生相變及蒸鍍效應低熔點的材料，請勿預約本機台。

3.電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品，若有影響真空造成污染之虞，本單位有權拒絕受理。

4.具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料，本單位有權拒絕受理。

5.未經正確處理或充分乾燥的樣品，本單位有權拒絕受理。