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儀器預約行事曆

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TAF 認證實驗室

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06 01 高分子及複合材料

薄膜
M 050 氧氣透過率
ASTM D3985
(0.5 to 1000) cm3 (STP)/m2·d (single cell)
(0.1 to 167) cm3 (STP)/m2·d (six cells combined)

薄膜
M 050 水氣透過率
ASTM F3299 (5×10-5 to 3) g/(m2·d)

塑膠
T 999 熱傳導係數
ISO 22007-2
(0.1 to 12) W/m·K
室溫

獎勵制度

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最後更新日期

2024-08-07

中心儀器狀態

種類 儀器名稱 地點 狀況 預約
光性質 拉曼光譜儀 (Raman) 先鋒大樓7F 正常
  顯微螢光光譜儀 (Micro PL, Ex 266 nm laser) 先鋒大樓7F 正常
  螢光光譜儀 (PL, Xe lamp) 先鋒大樓7F 正常
  傅立葉轉換紅外光光譜儀 (FTIR) 先鋒大樓7F 正常
  紫外光-可見光光譜儀(UV-Vis) 先鋒大樓7F 正常
電性 霍爾效應量測儀 (Hall effect) 先鋒大樓7F 正常
  四點探針量測 先鋒大樓7F 正常
粉體特性 比表面積分析 (BET) 先鋒大樓7F 正常
微觀結構 原子力顯微鏡 (AFM) 先鋒大樓7F 維修
  場發射掃描式電子顯微鏡 (FE-SEM) 先鋒大樓7F 正常
  穿透式電子顯微鏡 (TEM) 材資系1F 正常
  薄膜式X光繞射分析儀 (XRD) 先鋒大樓7F 正常
  化學分析電子能譜儀 (ESCA) 先鋒大樓7F 正常
  全反射式X光螢光光譜儀(TXRF) 先鋒大樓7F 正常
  白光干涉顯微鏡 (OM) 先鋒大樓7F 正常
熱性質 熱重量分析儀 (TG-DTA) 先鋒大樓7F 正常
  熔融指數量測儀 (MI) 先鋒大樓7F 外借
  熱傳導分析儀 (Thermoconductivity Analyzer) 先鋒大樓7F 正常
射線照像 斷層掃描儀 (CT) 化學館1F 正常
機械性質 動態機械熱分析儀 (DMA) 先鋒大樓7F 正常
質譜分析 氣相層析質譜儀 (GC-MS) 先鋒大樓7F 正常
其他 水接觸角量測 (Water Contact Angle) 先鋒大樓7F 正常
  水氣透過分析儀 (WVTR) 先鋒大樓7F 正常
  氧氣透過分析儀 (OTR) 先鋒大樓7F 正常
  光學膜厚分析儀 (Optical Film Thickness) 先鋒大樓7F 正常
製程設備 磁控式濺鍍 (Sputter) 先鋒大樓7F 正常
  電漿蝕刻機 (Plasma etch) 先鋒大樓7F 正常
  氣相沉積系統 (Deposit system) 先鋒大樓7F 正常
  卷對卷塗布機 (Roll to roll) 化學館1F 維修
  電子束蒸鍍機 (E-beam evaporator) 化學館1F 維修